生产与检测设备最佳解决方案

IC Industry - 暗崩检测系列 (Wafer Inspection SERIES)

竑腾集中全部力量不断研发及提升技能,提供完整的技术与设备给客户,并针对客户的发展趋势,提供客制化的设备开发与设计、检测效能提升和设备整合应用等即时而完整的解决方案。全力提供给客户最优良的产品。

若您对我们的机台与设备有兴趣,欢迎请联系我们!

WR1000
型号: WAFER 暗崩檢查機 (WR1000)
适用范围: wafer 切割後切割道產品內部龜裂檢測
机台功能: ♦ 机台使用水镜方式检测
♦ 机台检测 FOV 1.6x1.2mm, 单一画素 2.5μm
♦ 使用红外线光学系统搭配 10 倍率物镜检测
♦ 具有离线检查与改辨功能
♦ 条码开档对应 map 图档检查
♦ 具备 12 英吋转 8 英吋, wafer ring 作业治具
WI1100
型号: LED 晶圆检测机 (WI1100 / WI2000)
检测相机: 1200万画素彩色 CCD
光源系统: 明视野, 暗视野与背光, 高料度 LED 光源
机台功能: ♦ 适合 LED 雷射二极体及影像测试器等晶圆检测
♦ 使用者除了可以自行编辑检测规格外, 还可以自行设定瑕疵判断逻辑
♦ 提供完整的离线功能
♦ 可以选配物镜 (电动鼻轮可以配置 5 组镜头)
   2.0  倍率解析能 1.57μm
   2.5  倍率解析能 1.26μm
   5.0  倍率解析能 0.63μm
   10   倍率解析能 0.32μm
   20   倍率解析能 0.16μm
   50   倍率解析能 0.06μm
  100  倍率解析能 0.03μm